Addressing the effect of stacking faults in X-ray diffractograms of graphite through atom-scale simulations
Origine | Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte |
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licence |
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Marc Monthioux : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04553433
Soumis le : samedi 20 avril 2024-14:08:17
Dernière modification le : mardi 23 avril 2024-03:25:16