Intracavity testing of KTP crystals for second harmonic generation at 532 nm - Institut d'Optique Graduate School
Article Dans Une Revue Applied optics Année : 1999

Intracavity testing of KTP crystals for second harmonic generation at 532 nm

Résumé

We have developed a diode-pumped Nd:YVO4 cw laser for testing KTiOPO4 crystals designed for intracavity second-harmonic generation at 532 nm. We demonstrate that this source is extremely sensitive to defects inside the crystal, inducing losses at 1064 nm and an index mismatch between fundamental and harmonic waves.

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hal-00761393 , version 1 (05-12-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00761393 , version 1

Citer

Hervé Albrecht, François Balembois, D. Lupinski, Patrick Georges, Alain Brun. Intracavity testing of KTP crystals for second harmonic generation at 532 nm. Applied optics, 1999, 38 (12), pp.2536-2539. ⟨hal-00761393⟩

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